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电阻率测试仪(单晶硅)无探头

添加时间:2010-10-18 编辑: 阅读:

  • 产品名称:电阻率测试仪(单晶硅)无探头
  • 产品定货号:MS-00211-00
  • 产地:美国
  • 推荐:
仪器主要技术指标:
(测半导体都可用)
1. 测量范围:电阻率10-3?103Ω-cm,分辩率为 10-4Ω-cm ,可扩展到105Ω-cm方块电阻10-2?104Ω/□,分辩率为10-3Ω/□,可扩展到106Ω/□薄层金属电阻10-4?105Ω,分辩率为10-4Ω
2.可测半导体材料尺寸:直径Φ15?Φ125mm; 长度:150mm(可扩展500mm)
3.测量方式:轴向、断面均可
4.数字电压表:(1)量程:20mV(分辩率:10μV)、200mV、2V
(2)测量误差:±0.3%读数±1字
(3)输入阻抗:大于108Ω
(4)显示3 1/2 位红色发光二极管(LED)数字显示
0---1999具有极性、过载、小数点、单位自动显示
5.恒流源:由交流供电,具有良好的防泄漏隔离功能
(1) 直流电流:0?100mA连续可调
(2) 量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
(3) 分辩率:10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA
(4) 电流误差:±0.3%读数±2字
6.电性能模拟考核误差:<±0.3%符合ASTM指标
7.测试探头:(1)探针机械游移率:± 0.3% 符合ASTM 指标
8.电源:交流220V±10% 50HZ或60HZ 功率消耗< 30W
9.电气箱外形尺寸:119×440×320mm

产品名称产品简介产品编号
电阻率测试仪(单晶硅)无探头MS-00211-00



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