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添加时间：2010-9-17 编辑：07076 阅读：次
Surface Roughness / Contour Measuring Instrument. Easy operation by Touch Panel. For various kind of sample.
Surface Roughness
Analysis : Many parameters of different standards in one measurement.(Roughness measurement)
Contour
High resolution (Max. Sampling points : 64,000 points) and long measuring distance
|
Surface roughness | |
|
Measuring range / Verticala resolution |
Z: 600 μm / 0.08 nm |
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Drive speed |
0.05-2mm/s |
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Stylus |
R2 μm 0.75 mN or Less |
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Contour | |
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Accuracy |
Z: ±0.25 % (Our Standard) X: ±(1+0.02L) μm or Less |
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Measuring range |
Z: 50 mm X: 100 mm |
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Stylus |
R25 μm 10-30 mN |
| 产品名称 | 产品简介 | 产品编号 |
|---|---|---|
| SEF580-G18/-G18D圆柱度仪 | MC-08731-00 |
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