
707A六槽开关矩阵是以707为基础建造的,用于提供更强大的能力来实现用户定制和高性能开关。707A的大矩阵格式和灵活性使您能够定制…

高密度单槽708A开关矩阵以708为基础建造,以提供更强大的能力,用于工业环境中的生产测试。例如,它只占用标准19英寸机箱中的3 英…

7072半导体矩阵卡专为晶圆和器件的半导体参数测试中处理低电平高阻抗测量而设计。这一独特的设计提供了两条用于高灵敏度亚皮安测量…

7072-HV专为晶圆和器件的半导体参数测试中处理低电平高阻抗测量而设计。这一独特设计提供两条信号路径,能以低于1pA的偏置电流开关…

7174A低电流矩阵卡专为半导体研究、开发和生产应用而设计,满足高品质、高性能I-V和C-V信号开关需求。7174A是与吉时利4200-SCS、S…

The Model 4200-PIV-A Pulse I-V Option combines the Model 4205-PG2 Dual-channel Pulse Generator with the Model 4200-SCP2 O…

The Model 4200-PIV-Q package is designed for quiescent point pulsing for scaled-down RF transistors, such as HEMT and FET…

The Model 4200-FLASH package will test single FLASH memory cells or small arrays quickly and easily. This package takes a…

吉时利新的S530参数测试系统构建于我们久经考验的资源和测量技术,并针对工艺控制监测、工艺可靠性检测和器件描述等应用需…

S680专为高灵敏度高速测试而设计。测量仪器位于系统机柜内,而前置放大器位于测试头。前置放大器用于在探针后数厘米内放大低电平信…