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  • 测厚仪

    CMI250CMI250测厚仪  GD-00334-00

    Dual technology features magnetic induction and Eddy Current measurement techniques with statistical analysis and PC interface. The CMI250 is a feature rich instrument built upon our established Eddy Current / Magnetic In…
    产地:英国详细信息>>  
  • 测厚仪

    CMI511CMI511测厚仪  GD-00335-00

    Oxford Instruments CMI511 is a temperature compensating gauge for measuring Plated Through Hole (PTH) Cu thickness using Eddy Current technology. The CMI511 system is a hand held。
    产地:英国详细信息>>  
  • 涂层测厚仪

    CMI563CMI563涂层测厚仪  GD-00336-00

    Oxford Instruments  measures surface copper thickness applications to serve the quality control needs of the Printed Circuit Board industry.
    产地:英国详细信息>>  
  • 涂层测厚仪

    CMI730CMI730  GD-00337-00

    package enables control of plating / coating processes using advanced magnetic induction and eddy-current technology.  The CMI730 provides non-destructive coating / plating thickness measurement for non-magnetic coatings …
    产地:英国详细信息>>  
  • 涂层测厚仪

    CMI760NCMI760N涂层测厚仪  GD-00339-00

    packages measures surface copper thickness applications to serve the quality control needs of the Printed Circuit Board industry.
    产地:英国详细信息>>  
  • 数显式磁性测厚仪

    QUC-200QUC-200数显式磁性测厚仪  GD-00340-00

    执行标准: GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74 ,本仪器适于测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。专用于铁磁性材料表面上非磁性涂镀层厚度的测定。
    产地:中国详细信息>>  
  • 涂层测厚仪

    CMI760ECMI760E涂层测厚仪  GD-00341-00

    and CMI760EN for Cu thickness measurements. The CMI760E and CMI760EN packages measures surface Cu thickness and plated through hole (PTH) Cu thickness applications to serve the quality control
    产地:英国详细信息>>  
  • 涂层测厚仪

    CMI760ENCMI760EN涂层测厚仪  GD-00342-00

    and CMI760EN for Cu thickness measurements. The CMI760E and CMI760EN packages measures surface Cu thickness and plated through hole (PTH) Cu thickness applications to serve the quality control needs of the Printed Circuit…
    产地:英国详细信息>>  
  • 涂层测厚仪

    MC-2000DMC-2000D涂层测厚仪  GD-00343-00

    高新技术的结晶,它采用单片机技术,精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻;且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准,其性能达到当代国际同类仪器的先进水平
    产地:中国详细信息>>  
  • 涂层测厚仪

    MC-2000CMC-2000C涂层测厚仪  GD-00344-00

    高新技术的结晶,它采用单片机技术,精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻;且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准,其性能达到当代国际同类仪器的先进水平
    产地:中国详细信息>>  
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