X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.。
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荧光X线膜厚计采用二种滤波器采用数位式滤波器外另有机械式滤波器（两种滤波器）在测不定期时，若是最适当的条件下，经常可得到最高的精度。
荧光金属镀层测厚仪,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品
X射线荧光分析测厚仪,小巧独特的设计，为您尽可能节省成本，是进口荧光分析仪最实惠的产品，适合中小工件的测量，功能使用，准确性特高，是五金、首饰、端子等行业的首选
荧光镀层测厚仪,更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置，同时提供更高精度的Y轴控制
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x射线金属镀层测厚仪,新全视窗95直接执行可使用文书处理软件方便打印测量报告,樣品對準系统可有滑鼠於显示屏上直接控制，非一般牌子，只能局部控制
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