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SGG-01纳米测长仪

添加时间:2010-1-8 编辑:未知 阅读:

  • 产品名称:SGG-01纳米测长仪
  • 产品定货号:MC-05518-00
  • 产地:中国
  • 推荐:
主要参数:
型 号
数显分辨率
最大测量范围
十次测量重复性
测量稳定性
示值误差
测量力
SGG-01
0.1nm
500μm
(可走行程1.2mm)
≤0.5nm
漂移≤0.5nm/10分钟
±(3+0.03L)nm
0.001~0.1N
注:L=实际使用的测量范围,单位:μm
构   成:
     由传感器测头、数显表(数显卡)及测量台架三部分组成。
特   点:
此种传感器(测长仪)是本公司与国内外多位专家联合研究的结晶,原为本公司内部使用作为测量参考基准,现应相关客户要求,开始对市场供应。其主要特点是:
极高的测量灵敏度。数字分辨率可达0.1纳米;
极佳的稳定性与重复性。测量重复性及稳定性都在0.5纳米以内;
极小的测量误差(极好的线性)。全量程线性≤0.005%(十万分之五);
很微的测量力。从0.001N到0.1N可选定;
很大的测量范围与分辨率比值。可达 (五百万倍);
很宽的环境适应性。对室温变化要求不严,对气压、温度、空气折射率等不敏感;
很广的材料适用范围。可测任何种类金属物体,也可以测玻璃、晶片等任何非导体;
很远的测量距离。测量点和读数点可以远离3~30米,长电缆传输对测量结果没有影响。

产品名称产品简介产品编号
SGG-01纳米测长仪MC-05518-00



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