XUL系列射线荧光镀层厚度测试仪,Fischerscope X-RAY XUL-XYm是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法…
XDVW-u射线荧光镀层厚度测试仪,在经济上远远优于多元毛细透镜的Fischer专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量…
XDLM系列射线荧光镀层厚度测试仪,微聚焦X-射线管以及电机带动的有4个不同尺寸视准器组成的视准器组使得XDLM®-C4成为测量大批量…
XULM系列射线荧光镀层厚度测试仪,视准器组：圆直径为0.1/0.2；正方形0.05X0..05mm；长方形0.03X0.2mm ,测量箱外部尺寸：（高×宽×…
德国菲希尔fischerSIGMASCOPE® SMP10非铁金属电导率仪快速的，简便的，现场的以及需要时非接触式的测量非磁性金属的电导率
德国FISCHER公司X-RAY荧光测厚仪HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关…
FS® X-RAY XDVM-µ测厚仪:新型号的FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-µ是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微…
FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。
COSMOS-1X荧光X线膜厚计采用二种滤波器采用数位式滤波器外另有机械式滤波器（两种滤波器）在测不定期时，若是最适当的条件下，经常…
德国FISCHER公司X-RAY荧光测厚仪HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关…
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