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FS® XDL-B测厚仪

添加时间：2009-10-19 编辑：读取中…… 阅读：次

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  • 产品名称：FS® XDL-B测厚仪
  • 产品定货号：MC-00417-00
  • 产地：德国
  • 推荐：
FISCHERSCOPE® XDL®-B
 
FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。
 
XDL®-B 的特色是独特的距离修正方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL®-B 带测量距离固定的X-射线头，这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。
 

产品名称产品简介产品编号
FS® XDL-B测厚仪FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。 MC-00417-00



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