产品描述:
PT3100ABI记忆芯片测试仪
PT3100 ABI记忆芯片测试仪可测试32脚以内SRAM、DRAM、30线以内SIMM、SIP,测试容量:16K--- 116M。可自动测试芯片的好坏,也可先设定型号,再进行测试。
一般特性:
提供SINGLE TEST、LOOP TEST、PASS TEST、FAIL TEST四种测试方式。
细致的设置菜单,可设定测试电压及测试速度及是否自动关机等。
可准确显示故障位置 。
带有4*20字 8*5点的LCD显示屏。
可使用电源适配器,也可使用电池。
购买流程:
①购买产品:点击“生成订单”→填写产品数量、联系方式并提交→会员顾问订单处理→合同签订。
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