主要功能 :器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。 内部RAM数据修改：ICT?/FONT>33C可从键盘对自己内部RAM 中的数据进行随机修改。 EPROM、EEPROM器件读入：ICT?/FONT>33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。 EPROM、EEPROM器件写入：ICT?/FONT>33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中，并自动校验。

可 测 器 件（1300多种）

CMOS40系列：103种。

CMOSMC140系列：103种。

CMOS45系列：60种。

CMOSMC145系列：60种。

光耦合器系列：133种。

TTL74/54系列：714种。

TTL75/55系列：82种。

数码管系列： 0.5吋共阳[001]；共阴[002]；0.3吋共阳[003]；共阴[004]；0.7吋共阳[005]；共阴[006]。

常用RAM系列： 2112 2114 2016 6116 6264 6225 6 60256 628128

EEPROM系列： 2816 2817 2864 28256 28040 29101

EPROM系列： 2716 2732 2764 27128 27256 27512

微机外围电路系列： 8155 8156 8255 8253 8259 8212 8282 8283 8216 8816 8243 8226 8205 8286 8287 6820 6821 6880 6888 6887 6889 6810 6520 8254 8251 8279 8708 6840 8718 8728 Z8OCTC(8O2)