产品描述:
马尔粗糙度轮廓度综合测量仪
MarSurf XCR 20
Marsurf XC 20 + MarSurf XR 20 = MarSurf XCR 20 - the MarSurf XCR 20在一个设计单元中结合了XC 20和 the XR 20的所有功能.
MarSurf XCR 20 -描述
新一代的轮廓度和粗糙度测量系统. MarSurf XCR 20完美的轮廓度和粗糙度评定系统.粗糙度和轮廓度评定软件有独立的操作界面. MarSurf XCR 20Mahr的顶级表面测量系统,能实现半自动操作过程如测量立柱定位(S750 CNC)方便简单.
节省测量空间(MarSurf PCV 200轮廓驱动器单元和 GD 25粗糙度驱动器单元)可通过组合夹持装置在测量工作台ST 500 or ST 750上联合使用
利用驱动器LD120可进行轮廓度和粗糙度一次性测量
对于需要垂直和高分辨率的部件,MarSurf LD 120可进行高精度的单行程轮廓度和粗糙度同时评定功能
可在软件平台直接选择快速改变粗糙度和轮廓度测量,同时亦可更换驱动器和传感器 版本
综合计量设备- 一个测量工作台和两个驱动器 (PCV 200和 MarSurf GD 25)
综合计量设备- 带有快速转换夹具(PGK 120,PCV 200)
MarSurf LD 120 传感器
轮廓度和粗糙度测量单次测量同时获得!10 mm的测量范围,4 nm分辨率,最好的测量配置,如:低震动,测头测力可调,高重复可靠性.
使用 MarSurf LD 120让您领略MarSurf最高端产品的优越性能.
技术参数:
马尔MarSurf XCR20粗糙度仪轮廓仪特点
测量/评定:基于Windows操作系统的MarSurf XR 20软件具有德语、英语、法语、意大利语以及西班牙语等多种语言。
马尔MarSurf XCR20粗糙度仪轮廓仪参数和轮廓:超过65个R-轮廓、P轮廓、W轮廓和motifs参数,带公差监测和统计功能。参数列表和特征曲线。
马尔MarSurf XCR20粗糙度仪轮廓仪轮廓分辨率:取决于传感器型号,为± 25 µm测量范围内,最小分辨率可达76 nm。
测量范围:± 25 µm到± 2500 µm,取决于所用传感器类型。
采样长度个数N:1个到5个,或1个到Nmax个在N x Lc模式中,Nmax=驱动单元的最大测量长度/Lc滤波设定)
滤波器类型:GS / 2RC / SF ISO 13565-1 /外形翻转NEG/ARC-(弧形消除) -支持选择其他特别的过滤器
取样长度 Lc:可自由设定Lc,最大25 mm ,Lc = f(lt);0.025 mm / 0.08 mm / 0.25 mm / 0.8 mm / 2.5 mm / 8 mm以及短截止波长Lc,默认取样长度值符合ISO 4288规定,取样长度取决于Lt和dx。 驱动单元PZK, GD 25, PGK 20, PGK 120, PRK (通过PAV 62)
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