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株式会社小坂研究所（KOSAKA）是于1950年创立的公司，也是日本第一家发表光学幹槓桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術背景的專業廠商，主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析，包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。 品牌详情>>

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