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测试种类 |
可测试TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU及可编程器件 |
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显示方式 |
图形显示(时序显示)、状态显示 |
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被测芯片脚数 |
100脚以下 |
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最大输出电流 |
每引脚100mA |
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测试速度 |
500kHz/Pin |
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中文Windows操作平台 |
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开放式自建芯片的数据库 |
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V-1特性曲线测试 |
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工作温度 |
0°C~30°C |
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工作湿度 |
75% |
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功耗 |
约45W(不包括供待测板的功耗) |
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工作电压 |
220V±10% |
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YB3117配台式电脑 |
YB3118配笔记本电脑 |
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外形尺寸 |
90H×350W×350D(mm) |
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质量 |
约4.7kg |
| 产品名称 | 产品简介 | 产品编号 |
|---|---|---|
| YB3117集成电路测试仪 | 可测试TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU及可编程器件 | ME-04664-00 |
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