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Lp-1掌上型数位IC离线测试仪

添加时间：2009-5-14 编辑：泰亚赛福 阅读：次

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  • 产品名称：Lp-1掌上型数位IC离线测试仪
  • 产品定货号：ME-37003-00
  • 产地：中国台湾
  • 推荐：
Lp-1掌上型数位IC离线测试仪
1． 为测试数字 IC而设计 
2． 可测试元件：TTL54/74，CMOS 40/45，DRAM 41/44
3． 轻小可携带、操作容易，可使用电池、非常省电
4． 设有empty-load测试及自动电源开关装置 
5． 平均测试时间：0.8秒 
规格
1． 显示：16×1字LCD
2． 测试元件接脚数：14到24PIN
选择配件： *SOP adaptor 
支援元件
·74 Serial ·40 Serial ·45 Serial ·41 Serial ·44 Serial

产品名称产品简介产品编号
Lp-1掌上型数位IC离线测试仪Lp-1掌上型数位IC离线测试仪为测试数字 IC而设计;可测试元件：TTL54/74，CMOS 40/45，DRAM 41/44;轻小可携带、操作容易，可使用电池、非常省电ME-37003-00

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