泰亚赛福 —— 工业设备集采平台
MP40两用型涂镀层测厚仪
MPO涂层测厚仪
MP20两用型涂层测厚仪
MP10涂层测厚仪
MP20涂镀层测厚仪2009/10/19 17:02:28 阅读：667次
|
FISCHERSCOPE® XDL®-B
FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。
XDL®-B 的特色是独特的距离修正方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL®-B 带测量距离固定的X-射线头，这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。
|
| 产品编号 | 产品名称 | 产品简介 | 产品价格 |
|---|---|---|---|
| MC-00417-00 | FS® XDL-B测厚仪 | FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。 | 0￥ |
您当前的位置：
加入对比
