促进加硫橡胶之劣化，以计算加热前後拉力及伸长之变化率,泰亚赛福专业代理经营,我们提供相配套的资料以及完善的售前售中售后服务,我公司推荐的产品价格低质量好到货快服务优,欢迎致电北京010-84851836\上海021-54248686咨询.
硬度测量仪这种方便的袋式测量仪器可在平面及曲面上进行硬度测量。仪器内装一个可调压力的弹簧，压力由滑杆控制，弹簧作用在一个碳化钨探针上（直径1mm）,针头伸出壳外。一个定位缧锣丝固定滑杆，以保证恒定的弹性力，可选择三种不同压力的…
涂层测厚仪可用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、…
荧光测厚仪HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了最新的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线仪器具有其独特的特点。
测厚仪:是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。
涂层测厚仪测量范围 0-1999μm 分辨率 0.1 / 1μm 单次和连续测量方式转换功能 平均值/标准偏差记录功能
独特的距离修正方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL®-B 带测量距离固定的X-射线头，这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。
荧光测厚仪制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了最新的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线仪器具有其独特的特点。
测厚仪一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。它杰出的特性包括：2组可切换的各带4个视准器的视准器组，大的开槽的测量箱体确保工件放置简便，精确的可编程的直流电机驱动的X-Y工作台快速和无振动移动以及原始射线…
荧光X线膜厚计自动测定测量台利用滑鼠来调整测量位置，非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。
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