泰亚赛福 —— 世界领先的检测仪器集成供应商 
添加时间：2010-5-28 10:06:29 担当：未知 阅读：次
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Z分解能/測定範囲 |
0.00075μm/±6mm（0.0015μm/±12mm） |
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Z検出方式 |
半導体レーザスケール |
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触針 |
R2μm/0.75mN/60° R25μm/10mN/25° |
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解析項目 |
形状解析（要素、スカラ量、統計量、マスタ比較、公差判定） 表面粗さ（JIS、ISO、DIN、ANSI、BS） 表面うねり（JIS） |
| 定货号 | 产品名称 | 规格配置 | 价格 |
|---|---|---|---|
| GB-01575-00 | 表面形状粗糙度测量仪 | 标准配置或电话咨询010-84851836 | 咨询 |
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