SGG-01SGG-01纳米测长仪
添加时间：2010-5-28 11:13:23 担当：未知 阅读：次
- 产品名称：SGG-01SGG-01纳米测长仪
- 定货号：GB-01388-00
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主要参数： |
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型 号 |
数显分辨率 |
最大测量范围 |
十次测量重复性 |
测量稳定性 |
示值误差 |
测量力 |
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SGG-01 |
0.1nm |
500μm
(可走行程1.2mm) |
≤0.5nm |
漂移≤0.5nm/10分钟 |
±(3+0.03L)nm |
0.001～0.1N | 注：L＝实际使用的测量范围，单位：μm |
构 成：
由传感器测头、数显表（数显卡）及测量台架三部分组成。
特 点：
此种传感器（测长仪）是本公司与国内外多位专家联合研究的结晶，原为本公司内部使用作为测量参考基准，现应相关客户要求，开始对市场供应。其主要特点是：
极高的测量灵敏度。数字分辨率可达0.1纳米；
极佳的稳定性与重复性。测量重复性及稳定性都在0.5纳米以内；
极小的测量误差（极好的线性）。全量程线性≤0.005％（十万分之五)；
很微的测量力。从0.001N到0.1N可选定；
很大的测量范围与分辨率比值。可达 （五百万倍）；
很宽的环境适应性。对室温变化要求不严，对气压、温度、空气折射率等不敏感；
很广的材料适用范围。可测任何种类金属物体，也可以测玻璃、晶片等任何非导体；
很远的测量距离。测量点和读数点可以远离3～30米，长电缆传输对测量结果没有影响。
定货信息：
| 定货号
| 产品名称
| 规格配置
| 价格
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| GB-01388-00 | 纳米测长仪 | 标准配置或电话咨询010-84851836 | 咨询 |
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