EDX3600HEDX3600H X荧光光谱仪
添加时间:2010-5-28 8:59:34 担当:未知 阅读:次
- 产品名称:EDX3600HEDX3600H X荧光光谱仪
- 定货号:GH-00150-00
X荧光光谱仪
新一轮环保浪潮无卤(halogen-free)计划是国际绿色和平组织大力推动的绿化政策,得到了众多国际环保组织和国际大厂的坚决支持。欧盟 2002/95/EC指令、《蒙特利尔议定书》、《斯德哥尔摩公约》和国家电工委员会(IEC) 印制板材料法规都对卤素物质进行了限制。其中,IEC法规 IEC 61249-2-21规定氯、溴和总体卤素最大限量是:溴、氯含量分别小于 900ppm,(溴+氯)小于 1500ppm。
2009年推出的高性能、台式X荧光无卤分析,为全球最先进的卤素测试专用仪器,融汇全球领先的无卤分析技术,配备无卤测试效果最佳的智能真空系统,利用低能X射线激发轻元素,解决氯、溴测试问题。仪器能检测任何含卤素有害物质的产品,此外,还可适用全元素和RoHS分析,一机多用途,测试结果完全符合国际最新标准。
性能特点
美国产卤素测试高效X光管,指标达到国际先进水平
针对卤族元素(特别是氯元素)的测试而开发的专用配件
S100探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
天瑞仪器专利产品—信噪比增强器(SNE),提高信号处理能力25倍以上
低能X射线激发待测元素,对Cl、Br等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性;
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使Cl、Br等轻元素的测试具有相等的分析精度;
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制;
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度最薄至0.005微米,可分析3层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量时间:60s-200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV-50KV
管流:50uA-1000uA
测量对象状态:粉末、固体、液体
标准配置
卤素测试高效X光管
S100探测器
信噪比增强器 SNE
卤族测试专用配件
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构,力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
应用领域
无卤素测试 全元素分析 RoHS测试 镀层
定货信息:
定货号
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GH-00150-00 | X荧光光谱仪 | 标准配置或电话咨询010-84851836 | 咨询 |