XDVW-uXDVW-u射线荧光镀层厚度测试仪

1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法，符合技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568；
2.测量箱结构坚固，使用合格的机械和电气部件；
3.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）720 mm×660 mm×950 mm，重量大约为90kg；
4.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）140mm×560 mm×530 mm，带向上回转箱门；
5.原始射线从上至下；
6.高性能的X-射线管，高压及电流设定可调节至最佳的应用，高压设定：50kV，40kV或30kV；阳极电流：连续可调至0.8mA；
7.最小测量点: 50×100um
8.聚焦范围: 2.5 mm
9.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用；
10.高能量解像度的半导体接受器带帕耳帖冷却；内部光谱处理的ADC的通道为4096，压缩为1024个输出通道；；
11.快速编程，高精确度，电机带动的XY工作台运行范围：
X=250mm， Y=220mm. ；定位精度0.005mm；
工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆
工作台面板可自动移出至工件放置位置；定位容易；
12.电机驱动及高度（Z-轴）Z-轴运行=95mm；
13.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看；可选择的双重放大率30-1108倍，带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示；
14.测量箱键盘适合于最常用的测量功能和程序选择，操纵杆控制X-Y工作台，钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动，LED状态指示灯。

WinFTMV6 是一套专门为解决含量分析和镀层测量的软件
WinFTMV6可在WindowsTM9X//NT/XP平台上运行；因为透过简单操作及准确的分析结果，所以便能够提升生产力。WinFTMV6还有以下的特色……
特大屏幕能提供画中画显示分析结果，光谱及彩色影像图，图像亦可以用JPG格式储存。
仪器能同时间分析最多24种不同的元素；根据可检定的元素范围由x ppm到100%，所以原子序号可由氯Cl=17）到铀（Uranium Z=92）。
可同时测量23层不同元素镀层的厚度。
共有1024频道显示清晰光谱，可随意选用不同颜色及储存光谱图，方便日后加以分析。
因为不同受检样本的光谱可以进行比较，所以便快捷和容易地得出两种不同样本含量的分别。
快速的频谱分析以决定合金成分。
可以随意创建元素分析应用程式。
透过预先设入的14种纯元素作为资料库，仪器便可以不需用标准片调校亦能以基本系数（FP）进行分析；如果输入已知的元素更可快捷地得出含量结果。
可同时接受最多10种不同含量的标准片来调校仪器，所得出的结果更精确及可信赖。
用滑鼠选择已经储存的应用档案后，便可即时进行含量分析。
测量样品后，可透过“analysis”功能按键，仪器便会自动侦测内里的元素含量。
自带SOFTWARE PDM（Product Data Management产品数据管理）提供了以下的附加功能：
通过可定义的文件夹实现产品文件管理（产品文件包括应用，数据呈现方式，打印形式定义，输出模板设置和记事簿）。
打印形式可由用户随意设定，例如输出公司标题之类的小图片。包括字体管理以及随意定义页面设置。
单个的应用可连接至任何的产品文件（这种连接大大减少了校验和标准化所需的步骤数）。
使用条形码标签以及可选择的条形码读入器键盘，可实现产品自动选择。
允许仅对选择的数据进行评估。
从选择的数据块中进行单组读数的数据输出。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM-u可以透过RS232接口、磁碟片或网络卡将所要的资料汇出到其他电脑进行统计。
XYZ运行程序功能：随机的单个点，第一点和最后一点以及距离固定的中间点，列阵点，鼠标左键选点功能，右键可作为控制键。
语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文