集成电路在线测试仪-泰亚赛福

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7019-C7019-C 6线欧姆矩阵卡 DL-00103-00
6线欧姆矩阵卡专为电阻网络器件的自动化生产测试而设计，与数字源表仪器的六线电阻功能和开关主机配合使用。当这些仪器组合成生产测试系统时，“每元件”的典型测试时间小于10毫秒，最大速度典型时间小于4毫秒。
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70207020数字输入输出卡 DL-00104-00
主要特点及优点 80位控制 40入/40出输入和输出保护使用内部5.3V电源或外部电源数字输入/输出接口卡以易于控制的方式提供高密度数字输入/输出能力。都有40独立输入和40独立输出，因此它们非常适合紧密高效的监视和控制大型自动…
产地：美国详细信息>>
7020-D7020-D数字I/O卡 DL-00105-00
数字输入/输出接口卡以易于控制的方式提供高密度数字输入/输出能力。有40独立输入和40独立输出，因此它们非常适合紧密高效的监视和控制大型自动化测试应用。提供96引脚集中端接连接器。拥有在短电缆末端的两个重载50引脚D-sub连接器。D-su…
产地：美国详细信息>>
70217021多路选通数字输入输出卡 DL-00106-00
多路选通数字输入输出卡将高密度信号开关和数字控制结合到一张卡上。这一节约空间的设计非常适合配置紧凑的自动化生产测试应用。
产地：美国详细信息>>
70357035多路选通卡 DL-00107-00
9排多路选通卡具有九个1x4多路选通器。每个通道的开关接触配置都是双刀A型。该卡的九排能使用外部连接组合成多种不同的开关配置。这种灵活性适合对广泛的通讯产品和系统以及低功率便携式器件进行生产测试
产地：美国详细信息>>
半导体分立器件高低温老化巡测系统 DL-00049-00
分立器件高低温巡测系统是北京东英泰思特测试技术责任有限公司为军工、航空、航天等单位开发生产的半导体分立器件测试辅助设备
产地：中国详细信息>>
BC3186 DC-DCBC3186 DC-DC模块测试系统 DL-00050-00
电源模块参数测试系统是由北京东英泰思特测试技术有限公司开发研制的专用测试设备。该系统主要针对DC/DC电源模块的参数测试而设计的。系统主要用于DC/DC的成品测试，入厂检验和质量控制。该系统由PC机和系统主机构成。
产地：中国详细信息>>
70387038多路选通卡 DL-00110-00
75Ω 2.0GHz多路选通卡为加速广泛的电信硬件测试和评价而设计，测试应用包括基于同轴电缆的设备、有线电视设备和高速互联网接入产品。
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70537053高电流10通道扫描卡 DL-00111-00
有十通道和5A接触。
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70657065霍尔效应卡 DL-00112-00
霍尔效应卡为那些想要装配自己经济的霍尔测试系统的客户而设计。
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