电子测试仪器-泰亚赛福

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4200-PIV4200-PIV-Q脉冲 DL-00086-00
The Model 4200-PIV-Q package is designed for quiescent point pulsing for scaled-down RF transistors, such as HEMT and FET devices in III-V or LDMOS technologies.
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4200-FLASH4200-FLASH型非易失性存储器测试选件 DL-00087-00
The Model 4200-FLASH package will test single FLASH memory cells or small arrays quickly and easily. This package takes advantage of many of the new features added to the Model 4205-PG2 and includes all the necessary code…
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S530S530系列参数测试系统 DL-00088-00
参数测试系统构建于我们久经考验的资源和测量技术，并针对工艺控制监测、工艺可靠性检测和器件描述等应用需要的DC和C-V测量进行设计。
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S680S680 DC/RF参数测试系统 DL-00089-00
专为高灵敏度高速测试而设计。测量仪器位于系统机柜内，而前置放大器位于测试头。前置放大器用于在探针后数厘米内放大低电平信号，再将放大了的信号通过电缆传入系统机柜内的测量仪器。
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ACSBasicEditionACSBasicEdition集成测试系统 DL-00090-00
是40通道多路复用器，有四排独立的1x10开关。每条通道都是双刀。
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7011-S7011-S 1×10多路选通器 DL-00091-00
是40通道多路复用器，有四排独立的1x10开关。
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7012-C7012-C 4×10矩阵卡 DL-00092-00
提供4行x10列双刀矩阵开关。该卡的四行能连接到模拟后面板，从而实现更大的矩阵(4x20)，或与多路选通卡配合以获得更大的行扩展灵活性。连接到后面板的每行都配有可拆除的跳线，便于将个别行与后面板隔离。
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7012-S7012-S 4×10矩阵卡 DL-00093-00
提供4行x10列双刀矩阵开关。该卡的四行能连接到模拟后面板，从而实现更大的矩阵(4x20)，或与多路选通卡配合以获得更大的行扩展灵活性。连接到后面板的每行都配有可拆除的跳线，便于将个别行与后面板隔离。
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7013-C7013-C隔离20通道继电器开关 DL-00094-00
这款隔离式开关卡包含20条独立通道，能以多种配置进行连接。
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7013-S7013-S 20通道继电器开关 DL-00095-00
主要特点及优点 20独立双刀开关 500nV, 100pA偏置这款隔离式开关卡包含20条独立通道，能以多种配置进行连接。每通道都是双刀。隔离式开关配置提供最大的灵活性，因为开关可以按需连接。每个双刀继电器的两侧都可进行连接。
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