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“电子测试仪器”推荐产品
  • Q脉冲

    Q脉冲  DL-00086-00

    The Model 4200-PIV-Q package is designed for quiescent point pulsing for scaled-down RF transistors, such as HEMT and FET devices in III-V or LDMOS technologies.
    产地:美国 详细信息>>  
  • 非易失性存储器测试选件

    非易失性存储器测试选件  DL-00087-00

    The Model 4200-FLASH package will test single FLASH memory cells or small arrays quickly and easily. This package takes advantage of many of the new features added to the Model 4205-PG2 and includes all the necessary code…
    产地:美国 详细信息>>  
  • 参数测试系统

    参数测试系统  DL-00088-00

    参数测试系统构建于我们久经考验的资源和测量技术,并针对工艺控制监测、工艺可靠性检测和器件描述等应用需要的DC和C-V测量进行设计。
    产地:美国 详细信息>>  
  • DC/RF参数测试系统

    DC/RF参数测试系统  DL-00089-00

    专为高灵敏度高速测试而设计。测量仪器位于系统机柜内,而前置放大器位于测试头。前置放大器用于在探针后数厘米内放大低电平信号,再将放大了的信号通过电缆传入系统机柜内的测量仪器。
    产地:美国 详细信息>>  
  • 集成测试系统

    集成测试系统  DL-00090-00

    是40通道多路复用器,有四排独立的1x10开关。每条通道都是双刀。
    产地:美国 详细信息>>  
  • 1×10多路选通器

    1×10多路选通器  DL-00091-00

    是40通道多路复用器,有四排独立的1x10开关。
    产地:美国 详细信息>>  
  • 4×10矩阵卡

    4×10矩阵卡  DL-00092-00

    提供4行x10列双刀矩阵开关。该卡的四行能连接到模拟后面板,从而实现更大的矩阵(4x20),或与多路选通卡配合以获得更大的行扩展灵活性。连接到后面板的每行都配有可拆除的跳线,便于将个别行与后面板隔离。
    产地:美国 详细信息>>  
  • 4×10矩阵卡

    4×10矩阵卡  DL-00093-00

    提供4行x10列双刀矩阵开关。该卡的四行能连接到模拟后面板,从而实现更大的矩阵(4x20),或与多路选通卡配合以获得更大的行扩展灵活性。连接到后面板的每行都配有可拆除的跳线,便于将个别行与后面板隔离。
    产地:美国 详细信息>>  
  • 隔离20通道继电器开关

    隔离20通道继电器开关  DL-00094-00

    这款隔离式开关卡包含20条独立通道,能以多种配置进行连接。
    产地:美国 详细信息>>  
  • 20通道继电器开关

    20通道继电器开关  DL-00095-00

    主要特点及优点   20独立双刀开关  500nV, 100pA偏置   这款隔离式开关卡包含20条独立通道,能以多种配置进行连接。每通道都是双刀。隔离式开关配置提供最大的灵活性,因为开关可以按需连接。每个双刀继电器的两侧都可进行连接。 
    产地:美国 详细信息>>  
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