荧光测厚仪，即x射线荧光镀层测厚仪，利用X-射线照射物体待测部位，从而使镀膜、素材及中间层膜产生特定的X-射线，检测系统将其转换为与X射线强度成比例的电信号，经由仪器记录处理即可得到镀膜的厚度。X射线荧光镀层测厚仪，有着快速、准确、非破坏、非接触、小面积测量、多层合金测量、高生产力、高再现性等优点，对产品质量管理及企业成本节约有着重要作用，广泛应用于电子元器件、半导体、PCB、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器等行业。
XULM系列射线荧光镀层厚度测试仪,视准器组：圆直径为0.1/0.2；正方形0.05X0..05mm；长方形0.03X0.2mm ,测量箱外部尺寸：（高×宽×…
XDLM系列射线荧光镀层厚度测试仪,微聚焦X-射线管以及电机带动的有4个不同尺寸视准器组成的视准器组使得XDLM®-C4成为测量大批量…
XDVW-u射线荧光镀层厚度测试仪,在经济上远远优于多元毛细透镜的Fischer专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量…
XUL系列射线荧光镀层厚度测试仪,Fischerscope X-RAY XUL-XYm是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法…
XDL-B射线荧光镀层厚度测试仪,X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50kV，40kV或30kV,单个0.3mm直径(12 mils)的标准视准器，在附…
XDVM-W射线荧光镀层厚度测试仪,涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法，符合技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568,高性能的X-射…
XAN-DPP射线光谱材料定量分析仪,针对欧盟的RoHS指令最新开发的有害物质测量设备,完全电子制冷，无需要液态氮进行冷却，经济安全,X…
SFT157 X射线镀层厚度测量仪,可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度,可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度…
SFT3000 X射线镀层厚度测量仪,可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度,可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度…
SFT7000 X射线镀层厚度测量仪,可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度,可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度…
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