超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
The compact ultrasonic wall thickness gauge C1 EX is operating according to the multi-echo-technology.
The small and light ultrasonic wall thickness gauge SONOWALL 60 is operating according to the multi-echo-technology.
The light and compact ultrasonic wall thickness gauge SONOWALL 50 was developed for the precise measurement of the wall t…
DC-2030C超声波测厚仪
技术参数
显示方法∶128*32 LCD 中文点阵液晶显示（带背光）
显示位数：四位
测量范围：0.…
DC-2020C超声波测厚仪
技术参数
显示方法∶128*32 LCD 中文点阵液晶显示（带背光）
显示位数：四位
测量范围：0.…
DC-2010C超声波测厚仪
技术参数
显示方法∶128*32 LCD 中文点阵液晶显示（带背光）
显示位数：四位
测量范围：0.…
DC-2000C超声波测厚仪
技术参数
显示方法∶128*32 LCD 中文点阵液晶显示（带背光）
显示位数：四位
测量范围：0.…
DC-1000C超声波测厚仪
技术参数
显示方法∶128*32 LCD 中文点阵液晶显示（带背光）
显示位数：四位
细丝检测仪是光、机、电、算等多学科高度综合的新一代数字化高精密专用测量仪器，适用于不同直径的细丝测量，可广泛应用于细丝加工…
薄膜检测仪是我公司经多年研究而开发成功的一种薄膜测量仪器，对各种薄膜可以精确测量厚度、均匀性、薄膜弹性模量等，并且可以与计…
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