MINITEST740F15涂层测厚仪

型号
特性

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探头类型

内置

外置

内置外置可换

数据记忆组数

10

10

100

存储数据量

最多10,000个

最多10,000个

最多100,000个

统计值

读值个数，最小值，最大值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值（标准设置/自由配置）

校准程序符合国际标准和规范

ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准

校准模式

出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准，使用者可调节补偿值

极限值监控

声、光报警提示超过极限

测量单位

um，mm，cm；mils，inch，thou

操作温度

-10℃-60℃

存放温度

-20℃-70℃

数据接口

IrDA 1.0（红外接口）

电源

2节AA电池

标准

DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2

体积

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

约175g

约210g

约175g（内置）/230g（外置）

探头
特性

F1.5，N0.7，FN1.5

F2

F5，N2.5，FN5

F15

F

N

F

F

N

F

测量范围

0-1.5mm

0-0.7mm

0-2mm

0-5mm

0-2.5mm

0-15mm

使用范围

小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用

粗糙表面

标准探头，使用广泛

厚涂层

测量原理

磁感应

电涡流

磁感应

磁感应

电涡流

磁感应

信号处理

探头内部32位信号处理（SIDSP）

精确度

±（1μm+0.75%读值）

±（1.5μm+0.75%读值）

±（5μm+0.75%读值）

重复性

±（0.5μm+0.5%读值）

±（0.8μm+0.5%读值）

±（2.5μm+0.5%读值）

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

最小曲率半径（凸）

1.0mm

1.5mm

5mm

最小曲率半径（凹，外置探头）

7.5mm

10mm

25mm

最小曲率半径（凹，内置探头）

30mm

30mm

30mm

最小测量面积

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

最小基体厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

连续模式下测量速度

每秒20个读数

单值模式下最大测量速度

每分钟70个读数