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MI2042涂层测厚仪

添加时间：2009-11-25 编辑：读取中…… 阅读：次

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产品名称：MI2042涂层测厚仪
产品定货号：MI-90119-00

产地：中国
推荐：

MI2042涂层测厚仪具有精准的测量技术和简单的操作方法，是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码，可以使仪器在现场迅速的升级。

MI2042涂层测厚仪利用磁感应法（DIN EN ISO 2178）测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法（DIN EN ISO 2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。

仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。

MI2042涂层测厚仪是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。

彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。

特点概述：

◆　大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯

◆　校准选项

◆　出厂时已校准，立即可用

◆　在未知涂层上校准*

◆　零校准*

◆　在无涂层的基体上一点和多点校准*

◆　在有涂层的基体上校准*

◆　校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中，也可以随时调出

◆　可选择的显示模式，以最佳形式去完成测量任务*

◆　输入和极限监视*

◆　在Windows下有简单的存储读数档案管理*

◆　可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport

◆　统计*

◆　可统计评估999个读数

◆　最小值、最大值、测量个数、标准偏差和极限监视

◆　局部厚度和平局膜层厚度（DIN EN ISO 2808）

◆　在线统计，所有统计值概括

技术资料：

◆　数据传输接口RS232 或　USB

◆　电源：电池、充电电池、USB或外接电源

◆　测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)

◆　测量速度:　每秒测量２个数值

◆　存储: 最多 9999 个数值，140个文件

◆　误差:

◆　涂层厚度 < 100 祄: 1 % 的数值 +/- 1 祄 (校准后)

◆　涂层厚度 > 100 祄: 1..3 % 的数值 +/- 1 祄

◆　涂层厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的数值 +/- 10 祄

◆　涂层厚度　> 10000 祄: 5 % 的数值 +/- 100 祄

普通型		铁基膜层测厚仪标准套	2042F
		非铁基膜层测厚仪标准套	2042NF
		铁基/非铁基膜层测厚仪标准套	2042
数据型	铁基	2042 Fe set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括：膜层测厚仪，统计模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 EasyExport软件，操作手册，质量认证书，仪器箱	2042 EF
	铁基	2042 Fe Data Set ----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜层测厚仪，统计和资料模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 STATWIN 2002软件，操作手册，质量认证书，仪器箱	2042DF
	非铁基	2042 NFe set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括：膜层测厚仪，统计模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 EasyExport软件，操作手册，质量认证书，仪器箱	2042ENF
	非铁基	2042 NFe Data Set ----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜层测厚仪，统计和资料模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 STATWIN 2002软件，操作手册，质量认证书，仪器箱	2042DNF
	铁基/非铁基	2042 Fe/NFe Set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括：膜层测厚仪，统计模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 EasyExport软件，操作手册，质量认证书，仪器箱	2042 E
	铁基/非铁基	2042 Fe/NFe Data Set----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜层测厚仪，统计和资料模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 STATWIN 2002软件，操作手册，质量认证书，仪器箱	2042 D

附件：

试块和膜片

探头定位装置　(适用于微型探头)

定位辅助装置 (适用于微型探头)

电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理

电脑软件 EasyExport 用于把单独的杜说或全部文件传输到Windows 程序里

产品名称	产品简介	产品编号
MI2042涂层测厚仪	MI2042涂层测厚仪利用磁感应法（DIN EN ISO 2178）测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法（DIN EN ISO 2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度	MI-90119-00

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