FS® XDVM-W测厚仪
添加时间:2009-10-19 编辑:读取中…… 阅读:次
- 产品名称:FS® XDVM-W测厚仪
- 产品定货号:MC-00421-00
FS® XDVM-W测厚仪
FISCHERSCOPE® XDVM®-W
FISCHERSCOPE® XDVM®-W是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。它杰出的特性包括:2组可切换的各带4个视准器的视准器组,大的开槽的测量箱体确保工件放置简便,精确的可编程的直流电机驱动的X-Y工作台快速和无振动移动以及原始射线从上往下设计为在Z-轴可移动的X-射线发生和接受装置。
这个特性使得该系统非常适合于测量大批量生产的部件,例如螺丝,连接器插针或大的线路板。按动按钮就可根据预设的测试点定位进行自动测量,并可自动的进行评估报告输出。
其它不同版本的仪器参见“技术详细信息"。