泰亚赛福 —— 世界领先的检测仪器集成供应商 
添加时间：2009-9-23 编辑：泰亚赛福 阅读：次
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主要规格 |
规格描述 | |
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X射线激发系统 |
垂直上照式X射线光学系统 | |
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空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 | ||
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标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 | ||
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功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选 | ||
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装备有安全防射线光闸 | ||
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二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 | ||
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准直器程控交换系统 |
最多可同时装配6种规格的准直器 | |
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多种规格尺寸准直器任选：
－圆形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
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测量斑点尺寸 |
在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) | |
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在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) | ||
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样品室 |
CMI900 |
CMI950 |
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样品室结构 |
开槽式样品室 |
开闭式样品室 |
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最大样品台尺寸 |
610mm x 610mm |
300mm x 300mm |
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XY轴程控移动范围 |
标准：152.4 x 177.8mm
还有5种规格任选 |
300mm x 300mm |
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Z轴程控移动高度 |
43.18mm |
XYZ程控时，152.4mm
XY轴手动时，269.2mm |
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XYZ三轴控制方式 |
多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 | |
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样品观察系统 |
高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。 | |
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激光自动对焦功能 | ||
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可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 | ||
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计算机系统配置 |
IBM计算机
惠普或爱普生彩色喷墨打印机 | |
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分析应用软件 |
操作系统：Windows2000中文平台
分析软件包：SmartLink FP软件包 | |
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测厚范围 |
可测定厚度范围：取决于您的具体应用。 | |
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基本分析
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采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。 | |
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样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) | ||
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可检测元素范围：Ti22 – U92 | ||
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可同时测定5层/15种元素/共存元素校正 | ||
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贵金属检测，如Au karat评价 | ||
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材料和合金元素分析， | ||
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材料鉴别和分类检测 | ||
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液体样品分析，如镀液中的金属元素含量 | ||
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多达4个样品的光谱同时显示和比较 | ||
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元素光谱定性分析 | ||
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调整和校正 |
系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移 | |
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测量自动化 |
鼠标激活测量模式：“Point and Shoot” | |
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多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式 | ||
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测量位置预览功能 | ||
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激光对焦和自动对焦功能 | ||
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样品台程控 |
设定测量点 | |
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连续多点测量 | ||
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测量位置预览(图表显示) | ||
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统计计算 |
平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 | |
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数据分组、X-bar/R图表、直方图 | ||
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数据库存储功能 | ||
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任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 | ||
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系统安全监测 |
Z轴保护传感器 | |
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样品室门开闭传感器 | ||
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操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师 | ||
| 产品名称 | 产品简介 | 产品编号 |
|---|---|---|
| CMI900X荧光镀层测厚仪 | CMI900X荧光镀层测厚仪,精度高、稳定性好,强大的数据统计、处理功能,测量范围宽,NIST认证的标准片 | MC-02092-00 |
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