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XUL®镀层测厚仪
XUL®镀层测厚仪
订货号: MM-65722-00
产地: 德国
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开发编号: N
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产品描述:

遵循ASTM B568DIN 50 987ISO 3497等国家和国际标准。HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了最新的软件和硬件技术,FISCHER公司的X射线仪器具有其独特的特点。
独一无二的WinFTM®(版本3V.3)或版本6V.6))软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统,同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析(使用WinFTM® V.6软件)
典型的应用范围如下: 
单一镀层:ZnNi,CrCuAgAuSn等。 
二元合金层:例如Fe上的SnPbZnNiNiP合金。 
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。 
双镀层:例如Au/Ni/CuCr/Ni/CuAu/Ag/NiSn/Cu/Brass,等等。 
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/PlasticFe。 
最多24种镀层(使用WinFTM® V.6软件)。 
分析多达4种(或24种-使用V.6软件)元素。 
分析电镀溶液中的金属离子浓度


品牌简介

德国菲希尔公司Fischer测量技术--在测量技术领域内领航 高质量水准的FISCHER仪器是多年的工业领域经验积累,广泛的科研及与有名望的合伙人合作的结果。FISCHER是可靠的和胜任…德国菲希尔公司Fischer测量技术--在测量技术领域内领航 高质量水准的FISCHER仪器是多年的工业领域经验积累,广泛的科研及与有名望的合伙人合作的结果。FISCHER是可靠的和胜任的合作伙伴,能提供正确的建议,广泛的服务和应用培训研讨会。今天,FISCHER仪器已成功应用于工业,科研及所有的工程领域。

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