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FS® XDL-B测厚仪
FS® XDL-B测厚仪
订货号: MM-65718-00
产地: 德国
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FISCHERSCOPE® XDL®-B
 
FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。
 
XDL®-B 的特色是独特的距离修正方法。DCM方法(距离控制测量)自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL®-B 带测量距离固定的X-射线头,这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。
 


品牌简介

德国菲希尔公司Fischer测量技术--在测量技术领域内领航 高质量水准的FISCHER仪器是多年的工业领域经验积累,广泛的科研及与有名望的合伙人合作的结果。FISCHER是可靠的和胜任…德国菲希尔公司Fischer测量技术--在测量技术领域内领航 高质量水准的FISCHER仪器是多年的工业领域经验积累,广泛的科研及与有名望的合伙人合作的结果。FISCHER是可靠的和胜任的合作伙伴,能提供正确的建议,广泛的服务和应用培训研讨会。今天,FISCHER仪器已成功应用于工业,科研及所有的工程领域。

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