订货号: | TA-00039-00 |
产地: | 德国 |
品牌: | |
开发编号: | N |
市场价: | ¥ |
*此产品根据配置不同价格不同 |
*此价格为参考价格,具体价格以订单合同为准 |
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德国卡尔德意志(KARLDEUTSCH)检测仪器,设备有限公司是世界最著名的无损检测仪器设备专业生产厂家之一。公司技术力量雄厚、技术先进、具有几十年的开发、研制及生产无损检测仪器和成套设备的历史。其主要产品以性能先进、可靠性强、自动化程度高、操作简便、易于维护等特点赢得了世界范围广大用户的交口称赞。
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪简介:
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有精准的测量技术和简单的操作方法,是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码,可以使仪器在现场迅速的升级。
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚。
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求。
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。
彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
LEPTOSKOP2042技术参数:
数据传输接口RS232 或 USB
电源:电池、充电电池、USB或外接电源
测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
测量速度: 每秒测量2个数值
存储: 最多 9999 个数值,140个文件
误差:
涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)
涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um
涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um
涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪附件:
试块和膜片
探头定位装置 (适用于微型探头)
定位辅助装置 (适用于微型探头)
电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
电脑软件 EasyExport 用于把单独的读数或全部文件传输到Windows
我们同时提供德国KD公司(德国卡尔的意志)其它系列产品,欢迎来电咨询!
◆ 数据传输接口RS232 或 USB
◆ 电源:电池、充电电池、USB或外接电源
◆ 测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
◆ 测量速度: 每秒测量2个数值
◆ 存储: 最多 9999 个数值,140个文件
◆ 误差:
涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)
涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um
涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um
涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪附件:
试块和膜片
探头定位装置 (适用于微型探头)
定位辅助装置 (适用于微型探头)
电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
电脑软件 EasyExport 用于把单独的读数或全部文件传输到Windows
定货号 | 产品名称 | 规格配置 / 简介 | 市场价/(会员价) |
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TA-00039-00 | LEPTOSKOP2042FE统计数据型涂层测厚仪 | /() |