产品描述:
PG15-J型激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器,主要用于精密测量光学平面度。激光平面干涉仪配有激光光源(波长为6328A)。对于干涉条纹可目视、测量读数、照相留存记录。工作时对防震要求一般。该仪器可应用于光学车间、实验室、计量室。如需配购相关的必要附件,可精密测量光学平板的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性,光学镀膜面或金属块规表面的平面度,90o棱角的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。
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