少子寿命仪
| 订货号： | MM-79421-00 |
| 产地： | 中国 |
| 品牌： | |
| 开发编号： | N |
| 市场价： | ￥ |
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产品描述：
少子寿命仪
特点
1. 非接触，无损的半导体电子特性表征
2. 作为单点测量的台式仪器或作为硅片生产线上的高速测量部件
3. 可用于单个硅片的研发测量
4. 测量时间少于么个硅片1特点
5. 测量少子寿命，光电导率，电阻率（可选）
6. 高灵敏度，可视化微小损伤
样品
可测样品 未加工多晶硅片，任意尺寸硅片，晶圆片，硅锭，电池片
样品尺寸 任意尺寸，不小于10 x 10
电阻率 0.1- Ohm cm
电导类型 P,N
可测材料 硅片，外延层，部分或完全处理的晶圆，化合物半导体
可测参数 少子寿命（稳定态或非平衡态（μ-PCD）可选）
光电导率（稳态）->扩散长度
寿命范围 0.1μs-100ms
激发功率 缺省值双激光，980nm缺省值
测量点 缺省直径0.5mm
测量时间 小于1秒
仪器尺寸 300x240x240mm
技术参数：
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技术文档：
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明细价格：
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| 定货号 | 产品名称 | 规格配置 / 简介 | 市场价/(会员价) |
|---|---|---|---|
| MM-79421-00 | 少子寿命仪 | /() |
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上海：021-54248686 分机 或拨0转总机
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上海：021-64418200
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