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SEF580-G18粗糙度仪
SEF580-G18粗糙度仪
订货号：MM-65073-00

400-000-1836
分机： / 801 / 804
产地：日本
品牌：
开发编号： N
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产品描述：

Surface Roughness / Contour Measuring Instrument. Easy operation by Touch Panel. For various kind of sample.
Surface Roughness
Analysis : Many parameters of different standards in one measurement.(Roughness measurement)
Contour
High resolution (Max. Sampling points : 64,000 points) and long measuring distance 

Surface roughness

Measuring range / Verticala resolution

Z: 600 μm / 0.08 nm

Drive speed

0.05-2mm/s

Stylus

R2 μm  0.75 mN or Less

Contour

Accuracy

Z: ±0.25 % (Our Standard)  X: ±(1+0.02L) μm or Less
L: Measuring Length(mm)

Measuring range

Z: 50 mm  X: 100 mm

Stylus

R25 μm  10-30 mN

 



品牌简介

日本小坂日本小坂
株式会社小坂研究所（KOSAKA）于1950年创立，是日本第一家生产光学杠杆表面粗糙度计，具有悠久历史与技术背景的专业厂商，主要有测定/自动/流体三大部门。其中测定部门为最具…株式会社小坂研究所（KOSAKA）于1950年创立，是日本第一家生产光学杠杆表面粗糙度计，具有悠久历史与技术背景的专业厂商，主要有测定/自动/流体三大部门。其中测定部门为最具代表性单位且在日本精密测定也占有一席无法被取代的地位。
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