订货号: | MM-06087-00 |
产地: | 日本 |
品牌: | |
开发编号: | N |
市场价: | ¥ |
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*此价格为参考价格,具体价格以订单合同为准 |
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备有大画面TFT彩色和便宜的的黑白液晶。
便于携带的小尺寸
可在在现场环境下使用。
分析参数与海外规格对应
可任意选择JIS ISO DIN ASME CNOMO等规格
具有CE标志的安全设计
最高等最高等到直线度精度
仅显示必要的图标
采用个性化功能,可以只选择使用频度高的图标,自由进行图标配置,由此来制作操作者专用的菜单,可进行高效率的测量作业。
仅输入图纸上的数值即可进行测量的AI功能(已获得专利)
装载有AI功能,只需要输入加工图纸上的所记载的参数及容放值的条件,便可以自动选择最佳的取样长度、测量范围等测量条件来进行测量
显示测量步骤的引导功能
此功能可显示测量程序,以便使初次使用测量机的人也能顺利进行操作。
用于数据整理的便利的记录功能
用触摸笔可以把记录画面上书写的简单图形、文字如实地记录并打印到记录纸上。
满足各种需求的多种多样分析功能
装载有Ra、Rz、Ry、Sm、 S、tp等共34种粗糙度、32种波纹度的分析参数。
可能进行电气零部件的段差、膜厚以及面积等的分析。
倾斜补偿功能
装载有直线、前半、后半、两端、R面、花键曲线(已获得专利等6种自动倾斜补偿功能。
评价范围的任意设定(已获得专利)
用2条光标选择画面上的波形数据由2,可设定任意的主价范围进行各参数的运算。
配备有PC卡插槽
可管理测量条件及测量结果,以二进制格式和文本格式输出测量数据。从电脑的PC卡插槽很容易读取。
型号 |
SURFCOM | |
测量范围 |
X轴(横向) |
|
Y轴(纵向) |
| |
直线度精度 |
| |
分析项目 |
使用规格 |
JIS-2001,JIS-1994,JIS-1982,ISO-1997,ISO-1984.DIN-1990,ASME-1995,CNOMO规格 |
参数 |
Ra,Rq,Ry,Rp,Rv,Rc,Rz,Rmax.Rt,Rz.J.R3z.Sm.S.R△q.Rla.Rlq. TLL T A. lr.Pc.Rsk.Rku.Rk.Rpk.Rvk.Mr1.Mr2.Vo.K.tp.Rmr.tp2.Rmr2.Rdc AVH.Hmax.Hmin.AREA.NCRX.R.Rx.AR.NR.CPM.SR.SAR | |
评价曲线 |
剖面曲线、粗糙度曲线、滤波波纹度曲线、滤波中心线波纹度曲线、滚动圆波纹度曲线、滚动圆中心线波纹度曲线、DIN4776特殊曲线、粗糙度中心曲线(Motif)、波纹度中心曲线(Motif)、包络波纹度曲线 | |
表面特性图表 |
负荷曲线、功率谱曲线图、振幅分布曲线 | |
倾斜补偿方式 |
直线补偿、R面补偿、前半补偿、后半补偿、两端补偿、花键补偿、(直线、R面、两端补偿可以在任意范围内) | |
倍率 |
纵倍率(Z轴) |
50、100、200、500、1K、2K、5K、10K、100K、200K*、500K*倍、自动 |
横倍(X轴) |
1、2、5、10、20、50、100、200、500、1K、2K、自动 | |
滤波器的种类 |
标准型滤波器2RC、相位补偿型滤波器2RC、相位补偿型滤波器(高斯滤波器) | |
测量速度 |
0.3、0.6、1..5 | |
传感器 |
前端半径 | |
先进的功能 |
测量AI |
装载有测量AI功能、即使初学者也可容易掌握 |
段差分析功能 |
最适于测量半导体零部件的膜厚及面积 | |
PC卡 |
输出文本文件、将数据传送至电脑 | |
标准配件 |
标准片E-MC-S24B、记录纸(E-CH-S | |
各要素 |
电源 |
AC100~240V±10%、50/60Hz、30VA |
设置尺寸 |
700(W)*300(D)*150(H)mm | |
质量 |
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定货号 | 产品名称 | 规格配置 / 简介 | 市场价/(会员价) |
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MM-06087-00 | 日本东京精密130A粗糙度仪 | /() | |
MM-06087-98 | DM43811测针 | DM43811测针 | /() |
MM-06087-99 | DM43801测针 | DM43801测针 |