产品描述:
XS205DU超越系列专业型分析天平
超越系列分析天平展示世界领先的称量性能、无与伦比的符合人体工学的操作体验及先进的数据管理解决方案。它们完全遵循行业法规的要求,确保更高的生产效率并使操作更安全。
*采用高精度、高分辨率后置式传感器,获得准确称量结果
*全自动校准技术(FACT) - 温度漂移触发的天平自动内校,内置两组砝码实现线性误差校准,确保称量结果的准确性
*变量程专利设计(DeltaRange)和双量程(DualRange)设计,满足客户对不同样品的称量需求
*革命性的网格称量盘(SmartGrid)、悬浮在称量室中的后挂称量设计,获得快速、稳定的称量结果
*易巧称量组件(ErgoClips),方便客户使用不同去皮容器进行称量
*触摸屏技术(Touch screen),方便天平称量菜单和参数设置
*可移动的显示控制终端,方便天平使用
*完全可拆卸的防风罩设计,实现天平的快速清洁
*内置RS232通讯接口,方便连接打印机、电脑等外围设备
*优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求
*具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序
*e-Loader II软件,实现更便捷的天平软件更新
XS205DU超越系列专业型分析天平:
品牌:METTLER TOLEDO/梅特勒-托利多
量程:双量程
可读性:0.01/0.1mg
最大称量值: 81/220g
最大称量值重复性(s):0.1mg
10g重复性(s):0.02mg
线性:±0.2mg
1/2最大称量1)四角误差:0.3mg
灵敏度漂移:0.0004%
灵敏度温度漂移2):0.00015%/℃
灵敏度稳定性3):0.0002%/a
典型称量时间4):6s
接口更新速率:23/s
防风罩有效高度(mm):235
秤盘尺寸(mm):78×73
天平外形尺寸(W×D×H)(mm):263×453×322
1)按照OIML76标准
2)温度范围10 …30℃
3)灵敏度漂洗/年(天平首次使用后),激活FACT全自动校准技术
4)包括样品处理时间设置
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