您好,欢迎来到泰亚赛福!收藏泰亚赛福
订货号: | MM-21082-00 |
产地: | 日本 |
品牌: | |
开发编号: | N |
市场价: | ¥ |
*此产品根据配置不同价格不同 |
*此价格为参考价格,具体价格以订单合同为准 |
作为粒度仪的专业生产厂商,岛津公司新推出了划时代的单一纳米颗粒测定仪器IG-1000,并在美国伊利诺斯州芝加哥市的迈考密展览中心召开的Pictton 2009(3月8日至3月13日)展会众多产品中脱颖而出,获得“撰稿人奖”铜奖。
与目前采用散射光的动态光散射仪器(DLS)方法相比较, 优势明显。测定范围最低到0.5nm,在单一纳米颗粒领域可以获得十分良好的信噪比(S/N),灵敏度也非常高,如图一。 图一 C60(OH)n的测定结果 大阪大学 小久保先生提供 即便样品中含有少量的粗大粒子时对测定也没有影响,分布广的样品可以得到正确的结果,克服了以往DLS产品耐污染性差的缺点。如图二所示。 图二 粒径为50nm的粒子的测定结果,样品中含有1%的1um的粒子 IG-1000不使用散射光,因此不受物理参数的限制,不要求输入折射率因子(refractive index)作为测量条件。 列入将来JIS计划的分布范围10倍的氧化硅粒子样品,在IG-1000上能够给出很好的测定效果,中间粒径是76nm,与SEM的结果非常一致;而该样品如果使用DLS测定,中间粒径测定结果为100~150nm。该结果如图三所示,已在2008年十月份的日本粉体工学会,与同志社大学的森先生共同发表。图三 分布范围10倍的氧化硅粒子测定结果 IG-1000的方便可靠之处还在于,可利用原始数据(衍射光强度对时间的变化)来进行测定结果的可靠性验证,如图四。 图四 不同尺度粒子的衍射光强度与时间的关系 岛津公司粒度测定装置种类齐全,单一纳米粒径的新产品IG-1000可以与岛津其他多种型号的激光粒度仪联合使用,实现了从纳米到微米范围的可靠测定。 |
定货号 | 产品名称 | 规格配置 / 简介 | 市场价/(会员价) |
---|---|---|---|
MM-21082-00 | 纳米颗粒测定仪器IG-1000 | /() |