产品描述:
电制冷SiLi探测器的X-射线仪ElSix
ElSiX系统采用电制冷冷却,可以进行X射线荧光分析、X射线双色层分析仪和X射线能谱仪,适用于液氮制冷方法无法或者禁止使用的领域。全套系统包括:Si(Li)探测器、压缩单元和气体连接线。
特征
□ 无液氮冷却 □ 高能量分辨率
□ 薄铍窗 □ 任何空间方位的检测
□ 断电后的自动重启 □ 长期持续功能
□ 设计紧凑重量轻
技术参数
□ 能量范围:1~60keV
□ 能量为5.9keV时的分辨率:
■ 16μs的成峰时间:138keV
■ 1μs的成峰时间:268keV
■ 记数率为105cps,成峰时间1μs:275keV
□ 峰/本底的比率:>4000
□ 冷却时间:3小时
□ 环境温度:-5℃~+38℃ □ 操作模式:持续测量
□ 方位空间的限制:任意
□ 电压/频率:220V/50Hz
□ 功率:<60W
□ 尺寸:
■ 检测单元:80×135×150mm
■ 压缩单元:140×160×300mm
□ 重量:
■ 检测单元:1.8kg
■ 压缩单元:7.5kg
□ 工作的使用寿命(平均无故障时间):85000小时
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