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6.35mm单点反射测量支架
6.35mm单点反射测量支架
订货号： MM-71687-00
产地： 中国
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开发编号： N
市场价：￥
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产品描述：

6.35mm单点反射测量支架
单点反射测量支架是一个探头支架，用于厚度达150mm的光学层和其它基底的反射测量。 这一探头支架适于固定直径达6.35mm的光学探头和其它取样设备，可以在一个不锈钢支柱上上下滑行，调节高度可达63.5mm。反射台是电镀台面，表面刻有同心圆以确定直径，用于放置圆形样品。
规格 
尺寸（基座）：
直径为152.4mm
尺寸（样品区）：
直径为101.6mm*
重量：
620 g
高度：
垂直可调高度63.5mm
*指带有同心圆刻度的区域，用户也可利用整个基座的区域。


品牌简介

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