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BJ2939半导体分立器件测试仪
BJ2939半导体分立器件测试仪
订货号: MM-03981-00
产地: 中国
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开发编号: N
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产品描述:

BJ2939是我公司推出的一种高端半导体分立器件测试系统。该系统充分吸收国外先进测试系统的特点,采用了先进的嵌入式计算机技术和优化结构技术、16位并行A/D和D/A技术、多级开尔文反馈技术、小信号精密测试技术以及阵列开关结构技术,并选用优质材料制作。在系统设计、选材、工艺、制作、调试、校验等诸多方面与国内现有同类系统相比均有较大突破,从而大大提高了系统的技术性能和可靠性,保证了该系统各项技术性能指标处于国际先进、国内领先的地位。
  其特点是:侧重于中小功率器件、测试品种覆盖面广、测试精度高、电参数测试全、速度快、有良好的重复性和一致性、很高的工作稳定性和可靠性,很强的保护系统和被测器件保护能力。系统软件功能强大、使用灵活方便、操作简单。系统软件稳定可靠、硬件故障率极低,在实际测试应用中各项技术指标均可真实达到手册技术要求。
  系统采用方便易学的窗口菜单界面,在PC机窗口提示下,输入被测器件的测试条件,测试人员即可轻松快捷地控制系统,完成填表编程和开发测试程序、测试器件。操作人员不需具备专业计算机编程语言知识,使用简捷方便。3分钟即可完成一种测试编程,编写完成后输入仪器即可测试。当然还可以在仪器下直接进行器件测试程序及条件的编写,方便灵活。系统和测试夹具均采用多级开尔文结构,自动补偿系统内部产生的任何压降,保证各种情况下测试结果的精度和准确性。
优良的品质、低廉的价格、周到的服务使得该系统在国内市场具有强大的竞争实力。“高端的品质、低端的价格、周到的技术支持、全方位的客户服务”是无仪美达产品对市场和对客户的永恒承诺。
*产品外观以实际为主,图片仅供参考*
  系统具有的主要技术特征
采用脉冲法测试参数、脉宽可为300μS,符合国军标的规定
采用嵌入式计算机控制,实现脱机运行;
16位并行D/A、A/D设计,测试速度快、精度高;
采用多级开尔文技术,系统稳定性高,测试结果准确;
采用三级保护技术,系统可靠,对被测器件无损伤;
丰富的WINDOWS界面菜单编程和控制能力、方便的用户信息文件、统计文件方式;
晶体三极管自动NPN和PNP 判别能力,防止选错类型;
二极管极性自动判别选择,用户测试二极管不必注意极性;
完整的自检/自校准能力;
测试系统需要的其它多种数据后处理能力;


品牌简介

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