产品描述:
Lp-1掌上型数位IC离线测试仪
1. 为测试数字 IC而设计
2. 可测试元件:TTL54/74,CMOS 40/45,DRAM 41/44
3. 轻小可携带、操作容易,可使用电池、非常省电
4. 设有empty-load测试及自动电源开关装置
5. 平均测试时间:0.8秒
规格
1. 显示:16×1字LCD
2. 测试元件接脚数:14到24PIN
选择配件: *SOP adaptor
支援元件
·74 Serial ·40 Serial ·45 Serial ·41 Serial ·44 Serial
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