主要特点及优点

在350μs之内就可以完成接触检测验证与报告，有利于保持高速生产效率；

可以通过该仪器的前置面板或通过GPIB远程控制接触检测操作；

内置的“源存储器”可编程序列发生器最多可存储100个不同的测试，以满足高速生产的需要；

高达75000小时MTBF的可靠性设计，为不中断生产环境提供了良好的可靠性；

内置的比较器简化了pass/fail测试；

数字I/O支持快速键合或连接到元件机械手；

吉时利SourceMeter®（数字源表）系列是专为那些要求紧密结合激励源和测量功能，要求精密电压源并同时进行电流与电压测量的测试应用而设计的。所有源表均由一个精密的、低噪声、高稳定的带回读功能的直流电源和一个低噪声、高重复性、高输入阻抗的5 1/2位多功能表组成，形成了紧凑的单通道直流参数测试仪。其功能相当于电压源、电流源、电压表、电流表和电阻表的综合体。通信、半导体、计算机、汽车与医疗行业的元件与模块制造商都将发现，源表仪器对于各种特征分析与生产过程测试都极具实用价值。2420-C型高压源表功率为60W，能够提供和测量从±5μV（源）和±1μV（测量）到±60V的电压，以及从±100pA到±3A的电流。2420的生产测试应用包括必须在较高电流情况下进行测试的电阻和电阻网络、热敏电阻、太阳能电池、普通电池、大电流或中等功率二极管（包括开关和肖特基二极管）。2420-C也适用于CMOS集成电路的IDDQ测试，监测电池供电医疗设备（例如起勃器）的电流消耗情况。这种接触检查功能能够在开始一个自动测试序列之前，在350μs内轻松验证测试连接情况，从而实现了最大的测试功能。这就消除了由于接触不良、磨损、玷污、松动或连接断开、中继失效等问题导致的测量错误和虚假产品失效。

应用

器件：

离散半导体器件

无源器件

暂态抑制器件

IC、RFIC、MMIC

激光二极管、激光二极管模块、LED、光电检测器

电路保护器件:

TVS、MOV、熔丝

安全气囊

连接器、开关、继电器

测试：

漏流

低压、电阻

LIV

IDDQ

I-V特征分析

隔离与轨迹电阻

温度系数

正向电压、反向击穿、漏电流

直流参数测试

直流电源

HIPOT

介质耐受性