首页 > 电工仪器 >  电力电气检测设备 > 计量校准仪器 > 多功能校准仪 > 4200-SCS型半导体特性分析系统
4200-SCS型半导体特性分析系统
4200-SCS型半导体特性分析系统
订货号: MM-27284-00
产地: 美国
品牌:
开发编号: N
市场价:
*此产品根据配置不同价格不同
*此价格为参考价格,具体价格以订单合同为准
    我在现场:
    产品视频:
  • 产品描述
  • 技术参数
  • 技术文档
  • 相关产品
  • 明细价格
  • 购买流程
产品描述:

主要特点及优点
直观的、点击式Windows操作环境
独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至0.1fA
用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能
集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡
内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储
独特的浏览器风格的软件界面,根据器件的类型来安排测试,可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能
内置了Stress/Measure,循环和数据分析功能,通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试,包括5个JEDEC规范的样品测试
支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设备
硬件由Keithley交互式测试环境(KITE)来控制,用户测试模块功能,可用于外接仪表控制与测试平台集成,是KITE功能的扩充
包括驱动软件,支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300,Micromanipulator 的8860自动和手动探针台
支持先进的半导体模型参数提取,包 括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso
容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,WindowsNT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。

应用
半导体器件:
片上参数测试
晶圆级可靠性
封装器件的特性分析
使用Model4200-SCS控制外部LCR表进行C-V、I-V特性分析
高K栅电荷俘获
易受自加热效应影响的器件和材料的等温测试
电荷泵方法分析MOSFET器件的界面态密度
电阻式或电容式MEMS驱动特性分析
光电器件:
半导体激光二极管DC/CW特性分析
收发模块DC/CW特性分析
PIN和APD特性分析
科技开发:
碳纳米管特性分析
材料研究
电化学
 


品牌简介

吉时利仪器公司为全球专业的电子制造商提供高准确度的用于产品测试、过程监控、产品发展和研究的各种测量解决方案。吉时利公司大约拥有500多种产品,分别用于:能源、测量、…吉时利仪器公司为全球专业的电子制造商提供高准确度的用于产品测试、过程监控、产品发展和研究的各种测量解决方案。吉时利公司大约拥有500多种产品,分别用于:能源、测量、连接、控制或DC通信和光电信号。吉时利可以提供完整的包括仪器和主机插板的解决方案,既可作为系统的一个组件,也能作为独立的解决方案。吉时利的客户多是制造、产品更新和研究领域的工程师、技术人员和科学家。

您最近浏览的商品

美国泰亚赛褔