主要特点及优点

在350μs之内就可以完成接触检测验证与报告，有利于保持高速生产效率；

可以通过该仪器的前置面板或通过GPIB远程控制接触检测操作；

以半机架空间提供1kW输出能力，节省了成本和机架空间；

内置的“源存储器”可编程序列发生器最多可存储100个不同的测试，以满足高速生产的需要；

高达75000小时MTBF的可靠性设计，为不中断生产环境提供了良好的可靠性；

内置的比较器简化了pass/fail测试；

数字I/O支持快速键合或连接到元件机械手；

0.012%基本精度和5 1/2位分辨率，适合于精密测量。

吉时利SourceMeter®（数字源表）系列是专为那些要求紧密结合激励源和测量功能，要求精密电压源并同时进行电流与电压测量的测试应用而设计的。所有源表均由一个精密的、低噪声、高稳定的带回读功能的直流电源和一个低噪声、高重复性、高输入阻抗的5 1/2位多功能表组成，形成了紧凑的单通道直流参数测试仪。其功能相当于电压源、电流源、电压表、电流表和电阻表的综合体。通信、半导体、计算机、汽车与医疗行业的元件与模块制造商都将发现，源表仪器对于各种特征分析与生产过程测试都极具实用价值。2430-C型1kW脉冲模式源表具有与2425型100W源表相同的直流电源和测量范围，另外提供了独特的1kW脉冲模式，将电流上限扩展到10A。这一模式使得2430非常适合于测量多种高功率器件（包括多层变阻器MLV和半导体元件）的击穿电压。在这些器件的生产测试过程中，人们通常在高达10A的大电流脉冲下测量击穿电压。2430-C具有高达10A@100V（脉冲式）的可编程双极电压和电流源，同时具有所有2400系列的高速测试功能。2430-C经过编程可以产生各种占空比的单个脉冲或脉冲序列，脉宽可达5ms。在1kW的功率范围上，可以通过编程产生长度为2.5ms占空比为8%的脉冲。当结合PC控制器以及合适的开关硬件一起使用时，2430-C能够为高功率器件测试提供廉价的、高产能的解决方案、全面集成半架式的机壳外形。其他提供类似性能的解决方案，例如分立半导体元件测试器要比2430-C花更多4倍的成本，显著地占用更大的机架空间。这种接触检查功能能够在开始一个自动测试序列之前，在350μs内轻松验证测试连接情况，从而实现了最大的测试功能。这就消除了由于接触不良、磨损、玷污、松动或连接断开、中继失效等问题导致的测量错误和虚假产品失效。

应用

器件：

离散半导体器件

无源器件

暂态抑制器件

IC、RFIC、MMIC

激光二极管、激光二极管模块、LED、光电检测器

电路保护器件:

TVS、MOV、熔丝

安全气囊

连接器、开关、继电器

测试：

漏流

低压、电阻

LIV

IDDQ

I-V特征分析

隔离与轨迹电阻

温度系数

正向电压、反向击穿、漏电流

直流参数测试

直流电源

HIPOT

介质耐受性