产品描述:
				
                  型号:mEDX-1200 mEDX-1300  mEDX-1400
过去的X射线荧光光谱仪难以高灵敏度地分析很小的样品。对于因分辨率不足即使X射线强度足够也难以进行的电子部件、电路板以及食品中的异物等微小局部的测定,本装置可进行高灵敏度、高分辨率、分析直径最小至50mm的分析。 
●测定原理 x射线荧光分析法 
●测定方法 能量散射型 
●测定对象 固体、液体、粉体 
●测定范围 13AI ~ 92U(mEDX-1200) 11Na ~ 92U(mEDX-1300) 13AI ~ 92U(mEDX-1400) 
●x射线管 Rh靶 
●检测器 Si(Li)半导体检测器 (mEDX-1200,1300),Si漂移半导体 检测器(mEDX-1400) 
●样品型状 最大150mm×150mm×40mmH
				 
				
             
            
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