ARL QUANTX荧光能谱仪
应用领域：
●  应对RoHS & WEEE 指令分析   
●  各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量 
●  气溶胶颗粒滤膜， 刑侦以及痕量分析 
●  土壤、催化剂、矿石、原材料成份分析等 
●  营养添加剂 ,各种油品成份分析等 
●  磁性磁性介质和半导体，各种合金、贵金属成份
主要特点
● 分析元素范围　Na－Ｕ 
● 分析元素的浓度范围　ppm—100% 
● 整机稳定性连续8小时测RSD<0.25% 
● 高级FP无标样分析软件，无标样条件下误差小于1%。减少对标样的依赖性 
● ROHS/WEEE检测时间100-120秒 
● 样品类型： 固体，液体，粉末，滤渣，镀层及其他. 
技术参数
探测器配置 
●高灵敏电制冷Si(Li)探测器技术,仪器免维护和零费用运行,寿命达15年以上（可选用：液氮Si(Li) 探 
测器） 
●极高的分辨率： 电制冷Si(Li) 探测器 晶体面积15mm2 分辨率<155ev
（可选用： 液 氮Si(Li) 探测器 晶体面积30mm2 分辨率<149ev） 
●超大Si(Li) 晶体,极高的痕量分析的灵敏度,打破lng的检测限壁垒X-光管 
●50KV,50瓦,超强流端窗X-射线管,具有超强束流。高稳定,寿命可达15年以上 
●多滤光片技术,8位滤光片可根据分析对象元素,有效探测.可清晰分辨相邻 元素
数据采集
● 全数字脉冲处理器技术,死时间达60%，以及优异的峰背比,极大的提高分析速度及精度 
● 采用多道（32位4096道）脉冲分析器，极大的提高分析精度及其速度
其他
● 超大样品室，可容纳305mm×389mm×66mm的样品(增高室可选215mm或371mm) 
● 全自动校准，自动监测，自动报警系统，完全计算机控制 
● 镀层和薄膜测量技术, 具有无标样分析测厚技术 
● 方便快捷的运输和移动 
● 高性能，操作简便WinTrace软件
仪器介绍
    ARL QUANT’X 荧光能谱仪(EDXRF)  应对ROHS/WEEE检测绿色采购最佳帮手。
    ARL QUANT’X 能量色散X-荧光光谱仪(EDXRF)是最新的元素分析仪，是为实验室 和工厂制造环境下满足绝大多数分析设计的，其强大的功能和灵活性对于许多元素分析应用是不可缺少的。有了ARL QUANT’X，就不必在为元素的范围、分析性能、样品类型、分析便捷或可靠性担忧了。