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扫描型X射线荧光光谱仪XRF-1800型
扫描型X射线荧光光谱仪XRF-1800型
订货号: MM-21125-00
产地: 日本
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世界首创250μm微区分布成像分析功能!

XRF-1500/1700系列X射线荧光光谱仪是在世界上首先开发出微区分析/分布分析功能,并率先采用了4KW薄窗X射线管,扩大了X射线荧光分析的应用领域,作为具有革命性的仪器而得到了很高评价,业已销售200余台。
XRF-1800从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进,使得仪器的可靠性与可操作性更进一步提高,增加了世界首创的250μm微区分布成像分析功能,从而达到更高水平的完美程度。作为高灵敏度和微区分析的开拓者,岛津公司非常自信地向用户奉献出卓越的XRF-1800型X射线荧光光谱仪。


  • 测定高分子薄膜的膜厚与无机成分分析的背景基本参数(BG-FP)法
    利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢(H)元素的信息。高分子薄膜分析中,利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜的信息。

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    使用XRF-1800进行的膜厚测定、薄膜测定实例

  • 微区分析结构
    独自开发的特殊形状的滑动式视野限制光栏,利用r方向滑动与样品旋转控制的q转动,可以在30mm直径内的任意位置进行分析。
  • 利用CCD相机可以直接观察样品(选配件)
    在测定室导入样品的位置上,将样品容器按照与测定位置相同的方式放置,通过CCD摄取样品的图像,可使测定位置与图像相吻合。(专利申请中)
  • 配备高可靠性、长寿命的4kW薄窗X射线管
    配备平均寿命在5年以上的高可靠性X射线管。与传统的3kWX射线管相比,轻元素的分析灵敏度提高2倍以上。
  • 集成岛津技能精华的模块功能,匹配分析功能
    对应于液体、粉末、固体、金属、氧化物等不同形态的样品具有相应的分析条件,在这基础上可编制最佳的分析条件。可根据不同材质判定、品种分类、品种判定、一致性检索这4种匹配功能进行判定、检索。

※如有外观及规格变动,恕不另行通知。



品牌简介

岛津制作所自1875年创业以来,早在上世纪50年代就先后研制出光电式分光光度计、气相色谱仪、X射线分析仪等仪器。特别是在分析测试仪器、医疗仪器、航空产业机械等领域,以光…岛津制作所自1875年创业以来,早在上世纪50年代就先后研制出光电式分光光度计、气相色谱仪、X射线分析仪等仪器。特别是在分析测试仪器、医疗仪器、航空产业机械等领域,以光技术、 X 射线技术、图像处理技术这三大核心技术为基础不断推陈出新,满足更加广泛的市场需求,使岛津的高科技产品在全世界都享有很高的评价。

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