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Hawk非接触测量系统
Hawk非接触测量系统
订货号: MM-76244-00
产地: 中国
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开发编号: N
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产品描述:

    Hawk非接触测量系统提供所有材料复杂制造组件的高精度、可复验测量,并可提供符合一系列测量要求的模块化灵活解决方案。
    为实现精确测量,清晰、高分辨率图像十分重要。使用高对比度、高分辨率光学图像,增强表面清晰度,即可实现对复杂组件的快速、简便以及精确的测量。关键部件的测量可以轻松解决。
技术参数 
Hawk1/Hawk2/Hawk3/Hawk4: 
150mm x 150mm测量平台 
分辨率:1微米 
准确度:5微米 
重复性:3微米 
人工重复性:6微米 
Hawk5/Hawk6/Hawk7/Hawk8/Hawk9: 
200mm x 150mm测量平台 
分辨率:0.5微米 
准确度:2微米 
重复性:2微米 
人工重复性:3微米 
Hawk10: 
300mm x 225mm测量平台 
分辨率:2微米 
准确度:30微米 
重复性:10微米 
人工重复性:10微米 
Hawk11: 
400mmn x 300mm测量平台 
分辨率:2微米 
准确度:30微米 
重复性:10微米 
人工重复性:20微米 
主要特点 
Vision 的HAWK测量系统的突出优势 
 • 整体机身为一体浇铸,最新设计采用承重应力分析的结果以确保机身稳固坚实,从而保证得到最佳的测量结果的准确性及重复性。 
 • 专利的人性化设计使操作者无疲劳感,舒适高效,大大提高工作效率。 
 • 灵活的模块化设计,多种配置选择,从完整的手动两维测量到全自动的三维测量系统,可满足各种不同应用的需要。 
 • 多样化的照明系统:两点聚焦光,环形无影光,同轴光及底部透射照明,解决各种不同类型样本的显微观察及测量。 
 • 专业的QC200二维测量软件及QC5000三维测量软件功能强大,容易操作. 
 • Z向测量行程达230mm, 放大倍率10X至1000X任意可选。 
 • 高分辨率的测量平台,X,Y, Z均为0.5μm (200mm x 150mm测量台) 
高精度:2μm 高重复性:2μm 
 • 全范围长工作距离高数值孔径物镜, 保证显微影像的高清晰度和高分辨率。如放大500X的工作距离可高达10.6mm. 
 • 全部为光导纤维输出的“冷光”照明,使仪器本身及被测样本由照明而导致的热效应减至最低水平。 
 • 独特的专利照明塔箱具照明遥控装置,使其控制照明操作自如。 
 • 全自动型(HAWK 系统9)具Z向自动聚焦及自动寻边功能,对于需批量化及重复测量的样本极为适合。 
 • 业界唯一的兼备显微光学品质及视频自动化的非接触式测量系统。 
 • 专利的光学品质极适于:复杂的三维部件,透明及色泽不清的样本,低对比色样本 (如同色,黑色)。 
 • 整体结构为最新潮的时尚化设计,外形精美,为唯一获得工艺设计奖项的光学仪器。 
 • 高性能价格比,可根据预算资金及相关应用量入为出,灵活配置,根据未来功能的扩展也可随时灵活升级。 
 • 专业化的售后服务保证仪器始终保持最佳的工作状态,定期维护保养,及时提供检修。 
光学特点: 
    双光瞳单象光路,采用专利的Dynascopic扩瞳技术使其能无限修正光学系统,并提供最佳的人机工程设计,使其操作时舒适,高效,长时间也无疲劳感 
    能永久接合视频输出系统,高分辨率的视频/数码成象可满足于全自动测量及图象记录的需要 
    观察头体内预置十字定位尺,其形状可依用户所需设计 
光学放大倍率:
    标准配置为20倍线性放大,高数值孔径物镜可快捷更换 
    可选配放大倍率为10X,50X,100X,200X,400X,500X,1000X, 
照明方式:
标配150W顶部六点或十点无影环型光,采用光导纤维引导,可提供冷光照明 
标配75W底部光纤透射冷光照明,适合于轮廓及中空孔的测量需要 
可选2x30W两点聚焦式照明,适合于平整且非反射物的测量需要 
可选75W顶部光纤透射物照明,适合于高倍率下对平整且反射物或盲孔的测量需要 
测量平台可选:
手动或机动差异聚焦行Z轴的测量 
基于视频成像的全自动X和Y轴向的轮廓测量 
全自动Z轴的自动聚焦测量 
测量平台范围(手动或机动可选) 
数据输出 
接QC-200系列全自动读数器: 
可显示测量数据及相关图形 
多语言选择 
可外接打印机 
二维或三维测量 
可编辑程序 
可建立原点及储存 
接QC-5000几何测量软件 
显示全部几何图形及数据 
多语言选择 
手动或机动(CNC) 
预装(NLEC)非线性错误纠正功能 
二维或三维测量 
可编辑程序 
可连接CAD软件包 
自我帮助功能 
视频轮廓测量 
自动Z轴聚焦

品牌简介

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