XPV-400E/XPV-400Z透反射偏反光显微镜

一、用途
    XPV-400E/XPV-400Z 型透反射偏反光显微镜是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校最常用的专业实验仪器。高精度偏光显微镜可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影。透反射偏反光显微镜配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件还可用于化工化纤、半导体工业以及药品检验等领域。

二、系统简介

    透反射偏反光显微镜系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机图像处理技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。

三、偏反光显微镜技术参数：

1.目镜：

2.物镜：

3.放大倍数：40X 100X 400X 600X
  系统放大倍数：40X-2600X
4.聚光镜数值孔径：NA1.2/0.22 摇出式消色差聚光镜，中心可调
5.起偏镜：振动方向360°可调，带锁紧装置，可移动光路
6.检偏镜：可移出光路，旋转范围90°，内置勃氏镜，中心可调
7.补偿器：λ片（Ф18mm，一级红，光程差551nm）
          λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm）
          石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ级）
8.调焦系统：带限位和调节松紧装置的同轴粗微动，微动格值 0.002mm
9.电光源：6V/20W 卤素灯（亮度可调）
10.防霉：特有的防霉系统

四、系统组成

  电脑型透反射偏光显微镜（XPV-400E）： 1、显微镜 2、适配镜 3、摄像器(CCD) 4、A/D(图像采集) 5、计算机
  数码相机型透反射偏光显微镜（XPV-400Z）：1、显微镜 2、适配镜 3、数码相机

五、选购件

     1、高像素成像系统      2.偏光显微镜分析软件      3.物镜：20X